艾诺产品可靠性介绍
艾诺半导体公司自成立开始，就非常重视产品的质量和可靠性，公司将会按照行业标准 借鉴国际大厂的经验 结合自身公司的发展，持续打造高品质的可靠的超客户预期的产品来满足客户需求，因此从研发开始到客户的终端使用，产品的可靠性是艾诺持续不断的追求.可靠性是试验出来的。可靠性是预测的，可验证的。可靠性试验，实际上是用应力和应力作用的时间，以此来激发产品潜在的各种缺陷，帮助确定根本原因。在半导体器件中，一些常见的加速器是温度、湿度、电压、电流。在大多数情况下，加速测试不会改变故障的物理场，但它确实改变了观察的时间。加速和使用条件之间的转换称为“降额”。以下为典型的IC产品的生命周期曲线，可以用一条“浴缸曲线”来表示：
”浴缸曲线”代表了半导体产品寿命的三个阶段
1）早期故障率阶段
此阶段的特点是初始故障率相对较高，然后迅速下降。此阶段的故障率通常按“每百万缺陷数”(dppm)进行衡量。
2）稳定状态阶段
此阶段具有相对恒定的故障率，在器件的使用寿命期间保持稳定。按“FIT”单位或“故障间隔平均时间”(MTBF)小时数描述此故障率
3）损耗阶段
此阶段代表内在损耗机制开始居主导地位的点，故障率开始呈指数上升。产品寿命通常定义为从初始生产至损耗开始的时间。
艾诺半导体可靠性试验介绍
艾诺半导体为了保证产品的可靠性，严格按照如下可靠性的标准执行测试：
1、抗静电测试：人体放电模型 （ESD HBM）组件充放电模型 （ESD CDM）
HBM：它模拟了在工厂环境中携带静电的人体触摸接地设备的过程
CDM：它模拟了一个带静电的器件接触电路的情景。
为了衡量芯片是否在生产、组装、运输、日常过程中可能接触到的ESD，免受损坏。
2、预处理（Pre-Condition）
3、高低温循环与高低温冲击（Thermal Cycle＆Thermal Shock）通常封装完的IC，胶体或Substrate PCB在一般的环境下会吸收湿气，造成IC在过SMT回流焊时，发生“爆米花”（POPCORN）的状况。湿气敏感性等级（Moisture Sensitivity Level，MSL）被用来定义IC在吸湿及保存期限的等级，若IC超过保存期限，则无法保证不会因吸收太多湿气而在SMT回流焊时发生POPCORN现象。因此对于超过保存期限的IC要进行烘烤。MSL的分类有8级，具体如下：
>1 级 - 小于或等于 30°C/85% RH 无限车间寿命
>2 级 - 小于或等于 30°C /60% RH 一年车间寿命
>2a 级 - 小于或等于 30°C /60% RH 四周车间寿命
>3 级 - 小于或等于 30°C /60% RH 168 小时车间寿命
>4 级 - 小于或等于 30°C /60% RH 72 小时车间寿命
>5 级 - 小于或等于 30°C /60% RH 48 小时车间寿命
>5a 级 - 小于或等于 30°C /60% RH 24 小时车间寿命
>6级-小于或等于30°C /60% RH 12小时车间寿命（对于6级，元件使用之前必须经过烘焙，并且必须在潮湿敏感注意标贴上所规定的时间限定内回流）
TC 温度循环使 IC 承受两者之间极高和极低温度转换，通过预定次数的循环以及暴露时间来执行。4、高温操作寿命（High Temperature Operating Life）
HTOL 它用应力加速的方式模拟芯片长期运行，以此评估 IC 寿命和长期上电运行的可靠性。5、加速式温湿度未加偏压HAST（Accelerated Moisture Resistance Unbiaserd-HAST）
IC 被置于严苛之温度、湿度、压力下，应用于加速湿气的渗透，可通过外部保护材料（塑封料或封口），或在外部保护材料与金属传导材料之间界面。加速水分渗透到材料内部与金属导体之间的电化学反应。6、加速式温湿度偏压（Accelerated Moisture Resistance Biaserd-HAST＆THB）
与 UHAST 一样，也是为了加速腐蚀，但是有电压偏置。7、高温存储（High Temperature Storage Life）
长期存储条件下，高温和时间对器件的影响。
可靠性测试流程介绍
艾诺严格按照公司质量与可靠性标准，从产品的研发到生产都严格按照流程进行，确保产品的可靠性，如下是测试流程：
可靠性测试标准
艾诺严格按照行业标准，并结合自身的优势，所有的产品在出场之前严格按照标准测试，保证每一片芯片都能够满足要求，并提供客户所需的可靠性测试报告
测试项目
标准
样品数量
测试项目
标准
样品数量
抗静电测试 人体放电模型(ESD HBM)
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001
12pcs
MSL预处理MSL Preconditioning(PC)
JESD22-A113
所有进行THB BHAST UHAST TC&TS的试验样品
抗静电测试组件充放电模型(ESD CDM)
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002
12pcs
高温存储测试 High Temperature Storage Life(HTST)
JESD22-A103
77pcs/Lot 3Lot
抗闩锁测试（Latch-up)LU
JEDEC JS-078
3pcs
加速式温湿度未加偏压测试Accelerated Moisture Resistance Unbiaserd-HAST
JESD22-A118
77pcs/Lot 3Lot
高温操作寿命测试（High Tempertuer Operating Life(HTOL)
JESD22-A108
77pcs/Lot 3Lot
加速式温湿度偏压（Accelerated Moisture Resistance Biaserd-HAST＆THB）
JESD22-A101 JESD22-A110
77pcs/Lot 3Lot
温度循环测试Temperture Cycling（TC）/湿度冲击测试Thermal shock(TS)
JESD22-A104
77pcs/Lot 3Lot
